池州铸钢金相检测中心 第三方金属测试公司
| 更新时间 2024-11-16 09:10:00 价格 请来电询价 成分分析 腐蚀试验 牌号鉴定 金相检测 力学性能 硬度检测 联系电话 4001562656 联系手机 18682005914 联系人 谢先生 立即询价 |
详细介绍
池州铸钢金相检测中心 第三方金属测试公司
X射线荧光光谱法大多用来测定金属元素,也是一种比较传统的金属材料成分测定法。它的原理是:基态原子在没有被激发状态下会处于低能状态,而一旦被一定频率的辐射线激发就会变成高能状态,高能状态下会发射荧光,这种荧光的波长非常特殊,测定出这些X射线荧光谱线的波长就可以测定出样品的元素种类。测定出元素种类以后,把标准样品的谱线强度作为参照比较被测样品的谱线,即可以得出样品元素的确定、准确含量。X射线荧光光谱法确定金属材料成分的方法广泛应用在水质监测、环境科学、矿物、医学分析、生物制品等方面。
,池州金相检测中心。
镀层厚度测试方法一般有:金相法、库仑法或X-ray方法。
金相法:
利用金相显微镜原理,对镀层厚度进行放大,以便准确的观测及测量。
库仑法:
利用适当的电解液阳极溶解限定面积的覆盖层,电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解,经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同,被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。
X-ray 方法:
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
部分参考标准:
金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法 GB/T 11378-2005
金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则 GB/T 12334-2001
真空金属镀层厚度测试方法 电阻法 GB/T 15717-1995
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005
金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 GB/T 17722-1999
金属与非金属覆盖层 覆盖层厚度测量 β射线背散射法 GB/T 20018-2005
金属和非金属基体上非磁性金属覆盖层 覆盖层厚度测量 相敏涡流法 GB/T 31554-2015
金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法 GB/T 31563-2015
贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法 GB/T 38783-2020
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法 GB/T 4955-2005
金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法 GB/T 6462-2005
,铸钢金相检测中心。
X射线荧光光谱法大多用来测定金属元素,也是一种比较传统的金属材料成分测定法。它的原理是:基态原子在没有被激发状态下会处于低能状态,而一旦被一定频率的辐射线激发就会变成高能状态,高能状态下会发射荧光,这种荧光的波长非常特殊,测定出这些X射线荧光谱线的波长就可以测定出样品的元素种类。测定出元素种类以后,把标准样品的谱线强度作为参照比较被测样品的谱线,即可以得出样品元素的确定、准确含量。X射线荧光光谱法确定金属材料成分的方法广泛应用在水质监测、环境科学、矿物、医学分析、生物制品等方面。
X射线荧光光谱法大多用来测定金属元素,也是一种比较传统的金属材料成分测定法。它的原理是:基态原子在没有被激发状态下会处于低能状态,而一旦被一定频率的辐射线激发就会变成高能状态,高能状态下会发射荧光,这种荧光的波长非常特殊,测定出这些X射线荧光谱线的波长就可以测定出样品的元素种类。测定出元素种类以后,把标准样品的谱线强度作为参照比较被测样品的谱线,即可以得出样品元素的确定、准确含量。X射线荧光光谱法确定金属材料成分的方法广泛应用在水质监测、环境科学、矿物、医学分析、生物制品等方面。
,池州金相检测中心。
镀层厚度测试方法一般有:金相法、库仑法或X-ray方法。
金相法:
利用金相显微镜原理,对镀层厚度进行放大,以便准确的观测及测量。
库仑法:
利用适当的电解液阳极溶解限定面积的覆盖层,电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解,经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同,被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。
X-ray 方法:
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
部分参考标准:
金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法 GB/T 11378-2005
金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则 GB/T 12334-2001
真空金属镀层厚度测试方法 电阻法 GB/T 15717-1995
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005
金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 GB/T 17722-1999
金属与非金属覆盖层 覆盖层厚度测量 β射线背散射法 GB/T 20018-2005
金属和非金属基体上非磁性金属覆盖层 覆盖层厚度测量 相敏涡流法 GB/T 31554-2015
金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法 GB/T 31563-2015
贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法 GB/T 38783-2020
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法 GB/T 4955-2005
金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法 GB/T 6462-2005
,铸钢金相检测中心。
X射线荧光光谱法大多用来测定金属元素,也是一种比较传统的金属材料成分测定法。它的原理是:基态原子在没有被激发状态下会处于低能状态,而一旦被一定频率的辐射线激发就会变成高能状态,高能状态下会发射荧光,这种荧光的波长非常特殊,测定出这些X射线荧光谱线的波长就可以测定出样品的元素种类。测定出元素种类以后,把标准样品的谱线强度作为参照比较被测样品的谱线,即可以得出样品元素的确定、准确含量。X射线荧光光谱法确定金属材料成分的方法广泛应用在水质监测、环境科学、矿物、医学分析、生物制品等方面。
相关产品
联系方式
- 电 话:4001562656
- 联系人:谢先生
- 手 机:18682005914
- 微 信:18682005914
公司官网